晶圆电阻率测量探头

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MPP是四点探头的供应商,可用于晶圆电阻率以及导电薄膜的加工制造。

我们的探头在全球已使用多年,可用于负盛名的晶圆电阻率测量设备上。

我们可制造一整套复杂探头组件(主体,布线和针),可用于定制的设备上。


经过多年经验的积累,我们的专业技术人员可装配出高精度的探头,用于满足市场上的短期交付使用要求。

顶针之间的间隙范围可达到:0.635mm--1.591 mm(紧密度容限:+/-0.005mm)。

顶针压力范围在:50g --200g(紧密度容限:+/-1g)。

根据需求,我们只提供顶针,我们的顶针在市场上属于精良顶针,它的超细抛光顶针的顶部半径可从0.025mm -- 0.635mm。

针尖半径尺寸范围:0.025mm--0.635mm。


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